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          華為技術(shù)有限公司專利技術(shù)

          華為技術(shù)有限公司共有126873項(xiàng)專利

          • 本實(shí)用新型涉及測(cè)試領(lǐng)域,本實(shí)用新型實(shí)施例公開(kāi)了一種終端模塊測(cè)試裝置,該終端模塊測(cè)試裝置包括:輸入測(cè)試單元,用于向終端模塊的接口輸入測(cè)試序列;輸出測(cè)試單元,用于通知終端模塊的接口輸出測(cè)試序列;數(shù)據(jù)讀取單元,用于讀取終端模塊的接口所輸出的測(cè)...
          • 一種高、低阻抗模式轉(zhuǎn)換裝置,包括用于與測(cè)試發(fā)生器的兩個(gè)電源輸出端連接的第一、第二輸入端,用于與被測(cè)設(shè)備的兩個(gè)電源輸入端連接的第一、第二輸出端,其特征在于,所述第一輸入端與第一輸出端之間串聯(lián)有一個(gè)單向?qū)ㄆ骷谒鰡蜗驅(qū)ㄆ骷啥瞬⒙?lián)有...
          • 一種抗浪涌性能測(cè)試電路,包括:沖擊電流發(fā)生器,有輸出端口A及B,作用為產(chǎn)生沖擊電流;耦合網(wǎng)絡(luò),所述的耦合網(wǎng)絡(luò)通過(guò)所述沖擊電流發(fā)生器的輸出端口A及B與沖擊電路流發(fā)生器相連;受試設(shè)備,其包括有受試設(shè)備電源,接入該受試設(shè)備電源有火線(L線)、...
          • 一種產(chǎn)生模擬阻尼振蕩波的電路,由高壓波產(chǎn)生電路、高壓開(kāi)關(guān)和振蕩波形產(chǎn)生電路組成,其特征在于:    該產(chǎn)生模擬阻尼振蕩波的電路還包含有脈沖產(chǎn)生控制電路和驅(qū)動(dòng)模塊,該脈沖產(chǎn)生控制電路產(chǎn)生的脈沖信號(hào)輸入到該驅(qū)動(dòng)模塊,而由該驅(qū)動(dòng)模塊發(fā)出驅(qū)動(dòng)信...
          • 一種電力,電信系統(tǒng)中的雷擊檢測(cè)和評(píng)價(jià)方法及其設(shè)備,該方法包括實(shí)時(shí)檢測(cè)、記錄各級(jí)避雷裝置放電時(shí)地線上的峰值電流P;用比較法檢測(cè)雷擊持續(xù)時(shí)間T;計(jì)算PT乘積作為受雷擊強(qiáng)度;根據(jù)該雷擊強(qiáng)度值評(píng)價(jià)避雷裝置效果和系統(tǒng)是否受損及其受損程度,并及時(shí)確...
          • 一種駐波比的檢測(cè)方法及其裝置,通過(guò)取樣耦合器分別獲取正向和反向耦合信號(hào),然后進(jìn)行取樣信號(hào)處理:正向和反向耦合信號(hào)分別經(jīng)過(guò)對(duì)數(shù)放大器1和對(duì)數(shù)放大器2后,輸出兩路模擬電壓信號(hào),CPU通過(guò)控制A/D轉(zhuǎn)換器將兩路模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成可供CPU讀取的數(shù)...
          • 駐波檢測(cè)電路及其檢測(cè)方法,包括單片機(jī),雙向耦合器,由單刀雙擲開(kāi)關(guān)、對(duì)數(shù)檢波器及運(yùn)放組成的射頻信號(hào)檢測(cè)放大模塊;在單片機(jī)控制下,正反向射頻功率信號(hào)交替通過(guò)單刀雙擲開(kāi)關(guān)進(jìn)入對(duì)數(shù)檢波器轉(zhuǎn)換為直流信號(hào),A/D變換為數(shù)字信號(hào),進(jìn)而與設(shè)定值進(jìn)行比較...
          • 本發(fā)明公開(kāi)了一種基于邊界掃描器件的電路板互連線的測(cè)試方法,該方法首先確定掃描鏈描述文件、網(wǎng)表文件和邊界掃描語(yǔ)言描述文件(BDSL),對(duì)上述文件進(jìn)行編譯,根據(jù)編譯結(jié)果確定進(jìn)行互連線測(cè)試的測(cè)試掃描鏈;通過(guò)在測(cè)試掃描鏈上的生成測(cè)試激勵(lì)的器件引...
          • 本發(fā)明公開(kāi)了一種用于電子產(chǎn)品中進(jìn)行模擬故障測(cè)試的信號(hào)故障注入機(jī),包括通信控制模塊、控制所述通信控制模塊工作的CPU控制器,控制器通過(guò)設(shè)置在故障注入機(jī)上的串口端與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)相連接,其特征在于,還包括受控于所述通信控制模塊可模擬信號(hào)的各種失...
          • 本發(fā)明的一種含直公接口的單板測(cè)試方法,其包含用于待測(cè)試單板定位的定位步驟和進(jìn)行測(cè)試的檢測(cè)步驟。其中,所述的定位步驟包含以下步驟:a、將待測(cè)試單板沿導(dǎo)向槽推入至限位槽,完成粗定位;b、將定位銷穿過(guò)待測(cè)試單板的定位孔,完成精定位;c、用于檢...
          • 本發(fā)明公開(kāi)了一種系統(tǒng)電壓異常測(cè)試的實(shí)現(xiàn)方法,該方法步驟:A、至少提供一測(cè)試電壓序列,由電源控制模塊將測(cè)試電壓序列轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的指令;B、電壓產(chǎn)生模塊根據(jù)電源控制模塊輸出的指令產(chǎn)生相應(yīng)的電壓并提供給被測(cè)設(shè)備;C、通過(guò)監(jiān)視系統(tǒng)監(jiān)視被測(cè)設(shè)備是否...
          • 本發(fā)明一種實(shí)現(xiàn)交流掉電告警的系統(tǒng),該系統(tǒng)包含有整流模塊、濾波模塊、主路電壓變換整流濾波模塊、主路開(kāi)關(guān)控制模塊,其中,該系統(tǒng)還包含有:輔路電壓變換整流濾波模塊,用于將高壓直流電壓變換成高頻高壓電壓波并經(jīng)整流濾波輸出;輔路開(kāi)關(guān)控制模塊,用于...
          • 一種對(duì)電源系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試的裝置,該裝置包含有異常模擬控制模塊,其特征在于,該裝置還包含有主控制模塊,所述主控制模塊用于對(duì)所述的異常模擬控制模塊進(jìn)行控制并提供各種異常模擬控制模塊的變化組合;一次電源輸入至相應(yīng)的異常模擬控制模塊,在主控制模塊...
          • 一種時(shí)鐘占空比的測(cè)試方法,包括:    將被測(cè)時(shí)鐘和參考時(shí)鐘進(jìn)行邏輯“與”操作后,得到第一信號(hào),將該第一信號(hào)送到第一計(jì)數(shù)器;    將被測(cè)時(shí)鐘進(jìn)行邏輯“非”操作后,再和參考時(shí)鐘進(jìn)行邏輯“與”操作,得到第二信號(hào),將該第二信號(hào)送到第二計(jì)數(shù)器...
          • 一種自動(dòng)識(shí)別電路板類型的方法,包括下列步驟:    (1)分別選通被測(cè)試系統(tǒng)中的各電路板,獲取其掃描鏈的組成信息,將數(shù)據(jù)鏈路中的數(shù)據(jù)全部移出來(lái),并保存;    (2)使各電路板掃描鏈上所有器件進(jìn)入旁路狀態(tài);    (3)記錄各電路板上從...
          • 一種測(cè)試電路,其特征在于,所述測(cè)試電路包括:    由至少兩個(gè)開(kāi)關(guān)串聯(lián)組成的串路;    由至少兩組所述串路并聯(lián)組成的并路;    與所述并路并聯(lián)的測(cè)試模塊;    一端接至一組所述串路的任意兩個(gè)所述開(kāi)關(guān)之間,另一端接至另一組所述串路的...
          • 一種外圍互連線的測(cè)試方法,其特征在于,該方法包括下列步驟:    1)、用一組全“0”和全“1”的數(shù)據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)線的呆滯故障,如果實(shí)測(cè)值與期望值相同,則進(jìn)行下列步驟;如果實(shí)測(cè)值與期望值不相同,則相異位置的數(shù)據(jù)線發(fā)生呆滯故障,進(jìn)行故障排除后...
          • 一種時(shí)鐘信號(hào)幅度的檢測(cè)方法,其特征在于,它包括如下步驟:    確定被測(cè)時(shí)鐘信號(hào)最低幅度的預(yù)定值V1;    將被測(cè)時(shí)鐘信號(hào)至少分二路分別輸出至一時(shí)鐘頻率檢測(cè)電路的第一和第二觸發(fā)端,所述觸發(fā)端的高電平觸發(fā)門限低于所述預(yù)定值V1,并滿足關(guān)...
          • 本發(fā)明提供一種濾波器的自動(dòng)化測(cè)試方法,能克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的測(cè)試不完備且自動(dòng)化程度低的缺點(diǎn),所述的方法包括如下步驟:第一步:開(kāi)始并輸入與濾波器相關(guān)的參數(shù)及函數(shù);第二步:調(diào)用并執(zhí)行沖激信號(hào)測(cè)試用例;第三步:調(diào)用并執(zhí)行高斯白噪信號(hào)測(cè)試用例;...
          • 本發(fā)明公開(kāi)了一種利用仿真源數(shù)據(jù)進(jìn)行專用集成電路(ASIC)驗(yàn)證的裝置,該裝置包括,比較模塊,用于存儲(chǔ)符合3GPP協(xié)議的仿真源數(shù)據(jù)和期望數(shù)據(jù),輸出仿真源數(shù)據(jù)至接口模塊,配置算法信息并發(fā)送控制指令至ASIC數(shù)據(jù)處理部件,從接口模塊讀取并存儲(chǔ)...