一種光學相干斷層掃描（OCT）系統包括寬帶光源和照明光學器件，將生成的寬帶光投射到樣品上。光在樣品內部沿垂直于樣品表面的方向散射，以形成樣品光束；并且從樣品頂面沿垂直于樣品表面的方向反射，以形成參照光束。樣品光束和參照光束共傳播。收集光...

觀察裝置（1A）是對觀察對象物（S）進行觀察的裝置，具備：光源（11）、分束器（12）、鏡（13、14）、分束器（15）、調制部（21）、透鏡（31～34）、攝像部（41）以及處理部（42）。調制部（21）輸入從鏡（13）到達的第一分支...

觀察裝置（1A）是觀察移動的觀察對象物（S）的裝置，具備：光源（11）、分束器（12）、鏡（13、14）、分束器（15）、調制部（21）、透鏡（31～34）、攝像部（41）以及處理部（42）。調制部（21）輸入從鏡（13）到達的第一分支...

本發明的干涉觀察裝置具備：光源，其輸出光；干涉光學系統，其具有參照鏡，將從光源輸出的光分割成第一光及第二光，并輸出被觀察對象物反射的第一光和被參照鏡反射的第二光的干涉光；攝像元件，其檢測干涉光；處理部，其基于攝像元件的檢測結果取得干涉圖...

本發明的顯微鏡裝置具備：配置部，其供試樣配置；束照射部，其用于對配置于所述配置部的所述試樣照射聚焦離子束；激光輸出部，其用于輸出超短脈沖的激光；激光照射部，其用于將自所述激光輸出部輸出的所述激光照射至配置于所述配置部的所述試樣；及顯微鏡...

一個實施方式的試樣支承體是用于電離試樣的試樣支承體。試樣支承體具備基板，該基板具有第一表面、與第一表面相反的一側的第二表面、以及至少在第一表面開口的不規則的多孔質結構。多孔質結構由相互連結的多個顆粒形成。多個顆粒中構成第一表面的顆粒具有...

本發明的檢查裝置（1）具備：載臺（10），其保持PIC（100）；PIC控制器（20），其控制PIC（100）的動作；LRG濾光器（61），其具有在規定的波長域透過率線性變化的透過特性，基于透過特性將通過波導（108）導光并自至少1個光...

光外差干涉測量裝置（1）具備光束生成部（10）、分束器（21）、鏡（31）、第一光檢測器（41）、直線偏光板（42）、第二光檢測器（51）、直線偏光板（52）、AD轉換部（60）以及計算機（70）。第一光檢測器（41）接收從直線偏光板（...

本發明的相位調制模塊(1)包含：散熱器(2)；殼體部(3)，其具有形成為框狀的側壁部(32)，且與散熱器熱連接；以及配置于側壁部的內側的反射型的相位調制元件(6)及填充材(7)。相位調制元件具有：電路基板(61)，其配置于散熱器上；液晶...

本發明的量子級聯激光裝置具備QCL元件和封裝件。在封裝件的側壁，設置有使從QCL元件出射的激光通過的光出射窗。光出射窗由小徑孔、比小徑孔大的大徑孔、連接小徑孔與大徑孔的環狀的沉孔面、和配置在大徑孔的內側的窗構件構成。窗構件的入射面具有：...

在激光加工方法中，朝對象物（S）的表面（Sa）上的加工用激光（Lw）的照射預定光點（K）照射檢查用束（Lb），取得與對象物的加工前的表面狀態相關的加工前光點數據（D1），使用根據加工前光點數據（D1）的輸入而輸出加工用激光（Lw）的最佳...

一種激光加工裝置，包含：配置部，其供試樣配置；激光輸出部，其用于輸出激光；激光照射部，其用于將自上述激光輸出部輸出的上述激光照射至配置于上述配置部的上述試樣；及透過構件，其在配置于上述配置部的上述試樣與上述激光照射部之間配置在上述激光的...

在本公開的干涉光生成方法中，通過將基材（15）配置于第1激光（LA的光路，并對基材（15）照射將第1激光（LA）分割的多條第1光束（L1），從而在基材（15）形成與多條第1光束（L1）的照射位置對應的多個開口（P）而制作濾光器（6），在...

攝像裝置具備：行選擇部，其選擇第1攝像部的被讀出區域的各行及第2攝像部的被讀出區域的各行；蓄積部，其產生由自第1攝像部讀出的電信號與自第2攝像部讀出的電信號交替蓄積而成的第1數據；重排部，其通過將自第1攝像部讀出的電信號重新排列于與第1...

檢查裝置是檢查半導體器件的檢查裝置，具備：載臺，其保持半導體器件；LRG濾波器，其具有透過率在規定的波長區域中線性變化的透過特性，基于透過特性將半導體器件中產生的發光透過或反射；紅外相機，其拍攝透過了LRG濾波器的光并輸出透過圖像，并且...

本發明的檢查裝置（1）具備：載臺（10），其保持IC（100）；PIC控制器（20），其控制PIC（100）的動作；LRG二向色鏡（61），其具有在規定的波長域透過率線性變化的透過特性，基于透過特性將通過波導（108）導光并自至少1個光...

本發明涉及全息圖生成方法、全息圖生成裝置以及光照射裝置。全息圖生成方法具有圖案設定步驟(S1)、強度圖像計算步驟(S2)、評價值計算步驟(S3)等。在步驟(S2)中，對將在步驟(S1)中設定的候補圖案提示于輸入面時得到的復振幅分布進行零...

本發明的干涉觀察裝置具備：光源；干涉光學系統，其具有參照鏡，將自光源輸出的光分割成第1光及第2光，輸出被觀察對象物反射的第1光與被參照鏡反射的第2光的干涉光；攝像元件，其檢測干涉光；及處理部，其基于攝像元件的檢測結果取得干涉圖像。干涉光...

本發明的放電管包括：容器；具有開口部的板狀的陽極部；響應于通過了開口部的光的入射而釋放光電子的板狀的陰極部；沿陽極部與陰極部相對的相對方向延伸的棒狀的陽極電極部；和沿相對方向延伸的棒狀的陰極電極部。在相對方向上，將陽極部相對于陰極部所處...

圖像處理裝置基于通過利用斷層攝影裝置的測量獲取的被檢體的測量數據，制作與實空間不同的測量空間上的測量圖像，使該測量圖像輸入到CNN，通過該CNN制作實空間上的斷層圖像。CNN以包括編碼器部（21）、解碼器部（22）和瓶頸部（23）的U?...